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LBTA款涂層測(cè)厚儀主要用途: 本儀器采用了磁性和渦流測(cè)厚方法,可無(wú)損地測(cè)量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度及非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度 。
LBT新品上架涂層測(cè)厚儀主要用途: 本儀器采用了磁性和渦流測(cè)厚方法,可無(wú)損地測(cè)量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度及非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度 。
LBT涂層測(cè)厚儀主要用途: 本儀器采用了磁性和渦流測(cè)厚方法,可無(wú)損地測(cè)量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度及非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度。 技術(shù)參數(shù): 測(cè)量范圍0-1250mm 測(cè)量精度±3%H±1.5um 顯示精度0~99.99um:0.1um100um以上:1um Z小基體10X10mm Z小曲率凸:5mm凹:25mm Z薄基體0.5mm
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